型号 |
HC-49U,HC-49S,hc-49*d,HC-49T, UM-1,UM-5 |
频率范围 |
1.8432 to 80MHz |
调整频差( 25℃) |
±10 to ±50 ppm |
温度频差 |
±10 to ±100 ppm |
温度范围 |
0 to 50℃, -10 to +60℃(Standard), -10 to +70℃,-20 to+70℃,-30 to +80℃,-40 to +85℃ |
储存温度 |
-40 to +85℃ |
负载电容 |
7 pF min |
静态电容 |
7 pF max |
激励电平 |
10μW to 2MW |
老化率 |
±5ppm/year max |
串联等效电阻 |
Table A |
跌落测试:1. 跌落测试(冲击):从75cm高度自由跌落到30mm厚的胶板上,跌落3次,跌落后晶体频差不可*过4ppm。 |
2. 震动测试:频率10~55Hz,振幅0.75mm,X Y Z方向各振动30分钟。频率变化≤±20ppm。 |
3. 端子强度测试: 拉力:固定晶体主体,沿引出端轴向施加0.9Kg拉力,保持30±5秒,引出端无拔出或断裂现象。 弯曲:如下图所示,引线端头悬挂450g的重物,弯曲90°,时间2~3秒,以相同速度返回原位置,再反向操作,引线无松动和断裂现象。 |
4. 密封测试:将晶体浸在酒精中,加压5Kg/cm,时间5分钟,取出测引线与基座间*缘电阻大于500MΩ(DC100) |
5. 可焊性:从引线末端至底部2~3.0mm处放入235℃±5℃的焊槽内,时间2±0.5秒,沾锡面>95%。性能检验要求同振动。 |
焊接温度测试:从引线末端至底部2~2.5mm处放入350℃±10℃的焊槽内,时间3.5±0.5秒,试验后,外观无异常,性能检验要求同振动。 |
6. 温度循环测试: 2~3min -20℃ ………………… +70℃ 30min 30min 循环三次后,外观*伤。性能检验要求同振动 |
*潮测试:在40±3℃,RH93%±2%,放置48小时,取出后恢复2小时,外观无异常,性能检验同振动要求 |
外形尺寸
Dimension(CRYSTAL UNIT HC-49U,HC-49T,HC-49S) |
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外形尺寸
Dimension(CRYSTAL UNIT UM-1,UM-5) |