|
型号 |
HC-49U,HC-49S,hc-49*d,HC-49T, UM-1,UM-5 |
|
频率范围 |
1.8432 to 80MHz |
|
调整频差( 25℃) |
±10 to ±50 ppm |
|
温度频差 |
±10 to ±100 ppm |
|
温度范围 |
0 to 50℃, -10 to +60℃(Standard), -10 to +70℃,-20 to+70℃,-30 to +80℃,-40 to +85℃ |
|
储存温度 |
-40 to +85℃ |
|
负载电容 |
7 pF min |
|
静态电容 |
7 pF max |
|
激励电平 |
10μW to 2MW |
|
老化率 |
±5ppm/year max |
|
串联等效电阻 |
Table A |
| 跌落测试:1. 跌落测试（冲击）：从75cm高度自由跌落到30mm厚的胶板上，跌落3次，跌落后晶体频差不可*过4ppm。 |
| 2. 震动测试：频率10~55Hz，振幅0.75mm，X Y Z方向各振动30分钟。频率变化≤±20ppm。 |
3. 端子强度测试：
拉力：固定晶体主体,沿引出端轴向施加0.9Kg拉力，保持30±5秒，引出端无拔出或断裂现象。
弯曲：如下图所示，引线端头悬挂450g的重物，弯曲90°，时间2~3秒，以相同速度返回原位置，再反向操作，引线无松动和断裂现象。 |
| 4. 密封测试：将晶体浸在酒精中，加压5Kg/cm，时间5分钟，取出测引线与基座间*缘电阻大于500MΩ（DC100） |
| 5. 可焊性：从引线末端至底部2~3.0mm处放入235℃±5℃的焊槽内，时间2±0.5秒，沾锡面>95%。性能检验要求同振动。 |
| 焊接温度测试:从引线末端至底部2~2.5mm处放入350℃±10℃的焊槽内，时间3.5±0.5秒，试验后，外观无异常，性能检验要求同振动。 |
6. 温度循环测试：
2～3min
-20℃ ………………… +70℃
30min 30min
循环三次后，外观*伤。性能检验要求同振动 |
| *潮测试：在40±3℃，RH93％±2％，放置48小时，取出后恢复2小时，外观无异常，性能检验同振动要求 |
|
外形尺寸
Dimension(CRYSTAL UNIT HC-49U,HC-49T,HC-49S) |
|
|
外形尺寸
Dimension(CRYSTAL UNIT UM-1,UM-5) |
